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观看此视频，了解如何快速记录高度变化较大的样品的清晰光学显微镜图像。这是通过Leica Microsystems LAS X软件的可选扩展景深（EDOF）功能完成的。以使用徕卡显微镜从低倍率到高倍率记录的印刷电路板的EDOF图像采集为例。
通过在3种模式下获取图像的z堆栈来演示EDOF的操作：
自定义：将示例特征的顶部和底部作为焦点，并用作参考点
对称：聚焦样本特征的中间并用作参考点
开始：聚焦示例功能的底部并用作参考点
使用Leica广角光学系统（体视，复式或数字显微镜）的EDOF成像基于焦点变化。利用光学器件的有限聚焦深度（景深）来确定样本高度和深度信息。样品相对于物镜的垂直移动使得能够确定沿光轴的聚焦信息。对于样品的每个垂直位置，LAS X软件都会将聚焦清晰的图像区域与未聚焦的图像区域分开。采集图像的“堆栈”，并将对焦区域组合在一起，以形成垂直范围较大的样品清晰的合成图像。
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